分析・評価試験の株式会社パルテック

私たちが、お手伝いできること What Can We Supply for You? 株式会社パルテック
パルテックテストパネル
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分析・評価試験
パルテックテストパネルでは、日本パーカライジング鰍ニ提携し固体表面の分析、環境対応に関する溶液分析及び塗装板の耐腐食性試験評価等、お客様のニーズにお応え出来る様、分析評価用機器をそろえ、受託分析・試験業務を行っています。
分析・評価試験 ●固体表面及び無機分析
高周波グロー放電発光分光分析装置(HF-GDS)
X線光電子分光分析装置(ESCA)
高分解能微小X線光電子分光分析装置(μ-ESCA)
電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)
波長分散型検出器搭載走査型電子顕微鏡(SEM-EDS)
蛍光X線分析装置(XRF)
X線回折装置(XRD)
原子間力顕微鏡(AFM)
●一般機器分析
熱分解ガスクロマトグラフ(Py-GC)
元素分析装置(CHNS/O)
原子吸光分析装置・フレーム式(AA)
高周波誘導結合型プラズマ発光分析装置(ICP)
熱分析装置(TA)
イオンクロマトグラフ(IC)
全有機炭素分析(TOC)
吸光光度計(UV)
キャピラリー電気泳動分析装置(CE)
蛍光X線分析装置(XRF)
波長分散型検出器搭載走査型電子顕微鏡(SEM-EDS) ●有機分析
質量分析計(MS)
フーリェ変換赤外分光光度計(FT-IR)
フーリェ変換核磁気共鳴装置(FT-NMR)

●耐腐食性試験
複合腐食試験(CCT)
塩水噴霧試験(SST)JIS Z 2371
分析装置(略名)の機能
装置略名 装置の分析機能 試料サイズ
HF−GDS 表面層からバルクまでの元素の深さ情報を得る。
有機被膜も分析可能
10cm角、厚2mm以下
ESCA 固体・粉体の極表面の元素分析。有機被膜も分析可能 8mmφ、厚2mm以下
μ−ESCA 極微小表面のESCA分析 8mmφ、厚2mm以下
EPMA 固体・粉体の微小部の元素分析およびマッピング 8mmφ、厚2mm以下
SEM−EDS SEMでの表面状態観察および元素分析 8mmφ、厚2mm以下
XRF 粉末や固体試料中の元素分析 45mmφ、厚2mm以下
XRD 粉末や固体試料中の結晶構造分析 8mmφ、厚2mm以下
AFM 粉末や固体試料中の結晶構造分析 8mmφ、厚2mm以下
           
Py−GC ポリマー試料の構造解析 固体 5g
CHNS/O 有機物のC、H、N、S、O分析 固体 5g
AA 液体試料中の元素分析 液体 100ml
ICP 液体試料中の元素分析 液体 100ml
TA 試料の熱特性分析 固体 10g
IC 液体試料中の陰、陽イオン分析 液体 100ml
TOC 液体試料中のC(炭素)分析 液体 100ml
UV 紫外、可視吸収を持つ液体の分析 液体 100ml
CE 液体試料中の陰、陽イオン、有機酸等の分析 液体 100ml
           
MS ガス化した有機試料の構造解析 液体 100ml
FT−IR 有機物、有機被膜の構造解析 液体、固体 100ml
FT−NMR 有機物(液体)の構造解析 液体 50ml